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QUC-200數顯式磁性測厚儀
瀏覽次數:1265更新日期:2011-11-04

QUC-200數顯式磁性測厚儀

QUC-200 數顯式磁性測厚儀簡介:
執(zhí)行標準: GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 ISO2808-74 ,本儀器適于測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測定。

QUC-200 數顯式磁性測厚儀主要技術參數:
1
測量范圍: O-200μm
2
測量精度:±( 0.7μm+3%H *H為標準厚度